smart

ezt írja a laptop wincseszterre a smart
[code]pali@a-node:~$ sudo smartctl --all /dev/hdc
smartctl version 5.36 [i686-pc-linux-gnu] Copyright (C) 2002-6 Bruce Allen
Home page is http://smartmontools.sourceforge.net/

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: SAMSUNG HM060HC
Serial Number: S09XJ10LB28659
Firmware Version: YJ100-19
User Capacity: 60.022.480.896 bytes
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: 7
ATA Standard is: ATA/ATAPI-7 T13 1532D revision 0
Local Time is: Sun Nov 4 12:10:13 2007 CET

==> WARNING: May need -F samsung or -F samsung2 enabled; see manual for details.

SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status: (0x05) Offline data collection activity
was aborted by an interrupting command from host.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (2333) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 38) minutes.

SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x000f 100 100 051 Pre-fail Always - 1
3 Spin_Up_Time 0x0007 253 253 025 Pre-fail Always - 1856
4 Start_Stop_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1967
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 253 253 010 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x000e 253 253 000 Old_age Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0024 253 253 000 Old_age Offline - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 228534
10 Spin_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1
11 Calibration_Retry_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 46
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 967
190 Unknown_Attribute 0x0022 065 055 000 Old_age Always - 755761187
191 G-Sense_Error_Rate 0x0012 098 098 000 Old_age Always - 22255
192 Power-Off_Retract_Count 0x0012 253 253 000 Old_age Always - 0
193 Load_Cycle_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 3929
194 Temperature_Celsius 0x0022 065 055 000 Old_age Always - 35 (Lifetime Min/Max 0/11532)
195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 100 100 000 Old_age Always - 13303844
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 253 253 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0012 253 253 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 253 253 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 200 200 000 Old_age Always - 0
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 0
201 Soft_Read_Error_Rate 0x0012 253 253 000 Old_age Always - 0
223 Load_Retry_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 46
225 Load_Cycle_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 3929
255 Unknown_Attribute 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 0

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 1831 -

SMART Selective Self-Test Log Data Structure Revision Number (0) should be 1
SMART Selective self-test log data structure revision number 0
Warning: ATA Specification requires selective self-test log data structure revision number = 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
[/code]

Lehet hogy ideje lenne backupolni?

( skynetpro | 2007. 11. 04., v – 12:27 )

Tudja valaki, hogy kell értelmezni a smart rúnáit?

Hát, nem mindet.De a néhány, amit igen, az rendben van:
Hőfok 25 fok (ez teljesen oké, sokkal többet is ki szoktak bírni a diszkek), reallokált és pending szektrorok száma 0 (nem volt még olyan hiba ami miatt át kellett volna helyezni szektorokat).
Egyedül a raw read error rate az, ami gyanús, hogy nem 0, de azért 1 talán még nem jelenti azt, hogy a diszk a végét járja. A hardware ECC recovered nálam egy vadonatúj 500-as diszken is 5357948, szóval, az nem hiszem, hogy gond lenne.

Ettől függetlenül, az az adat, ami egy diszken van csak meg, az nincs is meg. Ami fontos, arról legyen backup.

( sz | 2007. 11. 04., v – 12:39 )

Lehet hogy ideje lenne backupolni?

A backupolásnak mindig ideje van (;

( corax | 2007. 12. 30., v – 00:52 )

mondjuk a temperature sorban "35 (Lifetime Min/Max 0/11532)" a minimum 0 fok C meg stimmelhet de mutass nekem olyan winchestert amelyik bármilyen (ismert :) ) hőmérséklet skálán kibírja a 11532 fokot :) tehát az valószínüleg hibás adat egyébként a smart néha elég érdekes dolgokra képes :)

Apropo nem tudja valaki mit mér a G-sense_error_rate mert ha otthagyom egy darabig és utána visszamegyek és elindítok egy programot akkor kb 5 másodpercre lefagy és kigyullad a HDD led majd kialszik és utána indul a program ( elvileg nem áll le (spindown) a winchester ). És ekkor általában eggyel nő a G-sense_error_rate. Régebben is volt ilyen fagyás de akkor bad sectort is csinált egy régi winchesteren a mostani viszont még csak 16 órája megy ... :(